掃描電鏡(SEM)是用電子槍射出電子束聚焦后在樣品表面上做光柵狀掃描的一種方法,它通過探測電子作用于樣品所產生的信號來觀察并分析樣品表面的組成,形態和結構。入射電子作用于樣品會激發多種信息,如二次電子,背散射電子,吸收電子,俄歇電子,陰極熒光,特征X射線等等。掃描電鏡(SEM)主要是通過二次電子,背散射電子和特征X射線(XRD)信號來分析試樣表面特性。場發射掃描電鏡(FE-SEM)是一種高分辨率的顯微鏡,其基本原理是利用高能束電子射向樣品表面,觀察和分析樣品表面形貌、微結構和...
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掃描電鏡(SEM)是用電子槍射出電子束聚焦后在樣品表面上做光柵狀掃描的一種方法,它通過探測電子作用于樣品所產生的信號來觀察并分析樣品表面的組成,形態和結構。入射電子作用于樣品會激發多種信息,如二次電子,背散射電子,吸收電子,俄歇電子,陰極熒光,特征X射線等等。掃描電鏡(SEM)主要是通過二次電子,背散射電子和特征X射線(XRD)信號來分析試樣表面特性。場發射掃描電鏡(FE-SEM)是一種高分辨率的顯微鏡,其基本原理是利用高能束電子射向樣品表面,觀察和分析樣品表面形貌、微結構和...
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隨著科學技術的飛速發展,鎢燈絲掃描電鏡是材料科學、生物學、地質學等多個領域的研究工具。鎢燈絲作為SEM中的關鍵組件,其性能直接影響到成像質量的好壞。鎢燈絲掃描電鏡利用高能電子束對樣品表面進行掃描,通過檢測樣品與電子相互作用產生的信號來獲取樣品表面的形貌信息。鎢燈絲因其較高的熔點、良好的熱電子發射能力而被廣泛應用于SEM中。然而,在長期使用過程中,鎢燈絲會因蒸發和氧化而逐漸變細,導致發射電流下降,影響成像效果。為了延長鎢燈絲的使用壽命并保持其性能,首先需要合理設置工作參數。鎢燈...
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在材料科學、生物學和物理學等領域,微觀世界的探索一直是科學家們不斷追求的目標。鎢燈絲掃描電鏡作為一種高分辨率的顯微成像工具,以其多尺度成像能力,為研究人員提供了一個從納米到微米級別的精細觀測窗口。國產鎢燈絲掃描電鏡利用細小的電子束在樣品表面進行掃描,通過收集二次電子和背散射電子信號,生成具有高空間分辨率的圖像。這種技術的優勢在于其能夠提供從幾納米到幾微米范圍內的清晰圖像,使研究人員能夠精確地觀察和分析樣品的表面形貌、結構和組成。在多尺度成像方面,該儀器的高分辨率使得可以在納米...
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在材料科學領域,了解材料斷裂的原因和機制對于設計和制備更強韌的材料至關重要。場發射掃描電子顯微鏡的高分辨率成像能力,在此領域的研究中通過對斷裂表面進行細致的觀察和分析,研究人員能夠揭示導致材料失效的微觀機制,從而為改進材料性能提供關鍵信息。場發射掃描電子顯微鏡的工作原理是利用一束狹窄的高能電子束掃描樣品表面,通過電子與樣品相互作用產生的二次電子和背散射電子信號來生成圖像。這種技術能夠提供從納米到毫米尺度的高分辨率圖像,使得研究者能夠清晰地觀察到材料斷裂面上的微觀特征,包括裂紋...
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在當今精密工程和納米科技的迅猛發展中,材料科學的前沿研究對高精度的表征技術提出了更高的要求。鎢燈絲低真空掃描電鏡因其優勢而在材料科學領域發揮著關鍵的作用。與傳統的高真空環境掃描電鏡不同,鎢燈絲低真空掃描電鏡允許在較低真空度下工作,這為非導電或含水樣品的直接觀察提供了可能,擴展了樣品分析的范圍。鎢燈絲作為電子源,能夠提供穩定的發射電流,從而生成高質量的圖像。在材料科學中,該設備的應用廣泛。例如,在新型材料的開發過程中,研究人員需要精確地觀察材料的表面形貌、微觀結構和組成成分。利...
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鎢燈絲掃描電鏡(TungstenFilamentScanningElectronMicroscope,TFE-SEM)是一種常見的高分辨率成像技術。它利用高速電子掃描樣品表面,可以得到樣品表面的高分辨率像,常用于研究材料的形貌、微結構和成分等。鎢燈絲掃描電鏡總發射電流以及束斑都比較大,抗干擾能力還有穩定性都比較好,低真空下能夠對不導電樣品無荷電成像,能夠使用于形貌觀察、顯微結構分析以及斷口形貌分析,在材料領域、地質領域、礦產領域、冶金領域、機械領域、化學領域、化工領域、物理領...
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